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新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
第四届科系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 西安  并行测试  技术研讨会  解决方案  同期  封装测试  现场  展示  混合信号  设计 
描述:第四届科系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届科系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨  西安  测试解决方案  生产测试  供应商 
描述:从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届科系列测试技术研讨年会”。[第一段]
sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
香港科技园运用科的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 特征分析  科技园  分析能力  诊断  香港  Systems  工具  有限公司  CMOS  工程验证 
描述:系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列科诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用科先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
第四届科系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨会  西安  中国  年会  IC测试  RFID芯片 
描述:对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自科的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的科最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]