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测试
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根据【检索词:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率】搜索到相关结果
48
条
科
利
登
任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科
利
登
系统
有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为
科
利
登
董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
第四届
科
利
登
年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科
利
登
系统
公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届
科
利
登
系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
科
利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨
西安
测试解决方案
生产测试
供应商
描述:
从
设计
到生产测试的全过程测试解决方案供应商——
科
利
登
系统
有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届
科
利
登
系列测试技术研讨年会”。[第一段]
为不断降低测试成本而创新——访
科
利
登
公司中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
总经理
测试成本
中国
创新
描述:
为不断降低测试成本而创新——访
科
利
登
公司中国区总经理陈绪先生
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统
有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断、工程验证、特征分析及测试仪
系统
的基础
科
利
登
新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
科
利
登
端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高速总线
端对端
成本优势
测试选件
产品系列
有限公司
芯片测试
成本优化
验证分析
描述:
。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台
科
利
登
Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用
科
利
登
先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片
设计
过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
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