检索结果相关分组
总后王谦副部长在军队驻京卫生单位益慰同志先进事迹报告会上
作者:暂无 来源:人民军医 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:模范践行全心全意为人民服务的宗旨,是永葆共产党员先进性的突出代表,是弘扬社会主义荣辱观的优秀典范,是彰显军队医务工作者良好形象的道德楷模。[第一段]
仪电器开创新风潮——访华仪电器集团有限公司董事长兼总裁陈
作者:肖吉德  来源:电气时代 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 有限公司  董事长  电器  总裁  集团  新风  中国经济  民营经济  改革开放  发展速度 
描述:型民营企业集团。陈道荣和妻子育有两儿一女。最推崇的人是中国改革开放总设计师邓小平。
利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──利登(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届利登年度技术研讨会西安召开
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  利登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
利登新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  利登公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
利登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  利登系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
ATE巨头利登掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  利登公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获