检索结果相关分组
从《周礼》西周时期的城市建设制度
作者:文超祥  来源:规划师 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 建设制度  西周时期  城市建设  周礼  城市规划  考工记  职责  诗经  组织建设  研究者 
描述:;而辨其邦国都鄙之数,制其畿疆而沟封之”[1]89。可见,早期的区域规划是由大司徒掌握的。司徒还负责对从事工程建设的“役徒”进行管...
从《周礼》中国古代的医事制度
作者:何敏 曹瑛  来源:辽宁中医药大学学报 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 周礼  医事制度  古代 
描述:管国家医药卫生行政事务及各地卫生保健、药物管理等方面事务的行政官职——医师,规定
登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科登(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届科登年度技术研讨会西安召开
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
登新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  登公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  登系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
ATE巨头科登掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  登公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获