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条
从《周礼》
看
西周时期的城市建设制度
作者:
文超祥
来源:
规划师
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
建设制度
西周时期
城市建设
周礼
城市规划
考工记
职责
诗经
组织建设
研究者
描述:
;而辨其邦国都鄙之数,制其畿疆而沟封之”[
1
]89。可见,早期的区域规划是由大司徒掌握的。司徒还负责对从事工程建设的“役徒”进行管...
从《周礼》
看
中国古代的医事制度
作者:
何敏
曹瑛
来源:
辽宁中医药大学学报
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
周礼
医事制度
古代
描述:
管国家医药卫生行政事务及各地卫生保健、药物管理等方面事务的行政官职——医师,规定
科
利
登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科
利
登(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届科
利
登年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科
利
登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科
利
登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
科
利
登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利
登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科
利
登新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科
利
登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试设备
科
利
登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利
登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
ATE巨头科
利
登掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利
登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利
登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必
达
市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科
利
登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
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