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条
科
利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利登系统公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科
利登与北方工大合作成立IC工程培训中心
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工程
合作
北方
科
利登系统公司
IC
半导体产品
SoC测试
工业大学
特性分析
描述:
科
利登系统公司日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
Sapphire D-10来自
科
利登的测试经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自
科
利登的测试经济化革新
科
利登与蔚华科技合并台湾业务
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利登系统公司
业务
股份有限公司
测试解决方案
半导体行业
技术整合
测试设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
务,从而进一步致力于对
科
利登在台湾地区的用户的支持。
科
利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品测试
技术发展
测试设备
描述:
科
利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
Silicon Image购买了
科
利登Sapphire测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试系统
消费类
购买
科
利登系统公司
gigabit
一代
测试解决方案
半导体工业
测试平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
科
利登(Credence)与蔚华科技合并台湾业务
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利登系统公司
业务
股份有限公司
测试解决方案
半导体行业
技术整合
测试设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
进一步致力于
科
利登在台湾地区用户的支持。
科
利登市场动作频频备受全球业界瞩目
作者:
海菲
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
全球
市场
科
利登系统公司
测试解决方案
半导体工业
描述:
世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供直商科利登系统公司近两个月来连续宣布三个市场动作,备受全球业界瞩目。[第一段]
科
利登新设工程培训中心,继续得到用户认可
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
科
利登系统公司
工程
认可
用户
自动测试仪器
半导体产品
SOC测试
首席执行官
工业大学
特性分析
混合信号
产业市场
测试设备
实践经验
中国
总裁
描述:
中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供测试设备,让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
科
利登(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
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