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新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  掩模  测试解决方案  系统定位  集成电路  量产时间  物理分析  供应商  问题  产品 
描述:正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
ELMOS签署了购买多台利登Piranha系统协议
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 签署  购买  产品线  合作伙伴  利登公司  需求  协议  ha系统  器件  平台 
描述:利登公司日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台利登Piranha系统的协议。作为利登的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  步进扫描  图像叠加  掩模  系统定位  集成电路  量产时间  问题  产品  加工成本 
描述:效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
Micrel购买多台利登ASL 3000和ASL 100
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 混合信号测试  Micrel公司  利登ASL3000  ASL1000系统 
描述:Micrel购买多台利登ASL 3000和ASL 100
利登系统公司2004年第二季度财务报告
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:利登系统公司2004年第二季度财务报告
在MediaTek推动下多台利登Sapphire NP系
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: MediaTek公司  Sapphire  NP系统  测试系统  测试容量  DVD市场 
描述:在MediaTek推动下多台利登Sapphire NP系
Ikanos选择利登的Octet测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  Ikanos通讯公司  Octet测试系统  数字信号处理 
描述:Ikanos选择利登的Octet测试系统
全新的利登:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的利登:提供先进技术降低测试成本
DMEA购买利登IMS Vanguard测试系统
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: DMEA工程实验室  IMS  Vanguard测试系统  利登公司  微处理器 
描述:DMEA购买利登IMS Vanguard测试系统