检索结果相关分组
- 科利登宣布收购NPTest的最终协议
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 NPTest公司 非DRAM半导体测试领域 企业重组
- 描述：科利登宣布收购NPTest的最终协议
- 科利登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 PCI SIG HyperTransport组织 系统级芯片
- 描述：科利登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
- 科利登（Cre dence）：访科利登系统（上海）有限公司
- 作者：丁力 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 陈绪 人物访谈 发展战略 中国市场 测试设备
- 描述：2004年3月17～19日，SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行，来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
- 创建业界领导者——科利登投资人更新
- 作者：G Siddall 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 恩浦公司 特征分析 调试 半导体设备
- 描述：创建业界领导者——科利登投资人更新
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 激光扫描显微镜 软件设计 长工作距离 新型集成电路 切换系统 调试方法 工艺性能
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- Credence科利登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
- 作者：乔治 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体公司 成本效益 Credence 小型化 集成化
- 描述：作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
- 科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 软件设计 长工作距离 新型集成电路 失效模式 切换系统 竞争优势 制造工艺
- 描述：探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
- 科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率