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服务测试领域 满足客户需求:访科利登系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  科利登公司  工业设计 
描述:科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一