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系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届科年度技术研讨会西安召开
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:的趋势、零一中频收发器以及RFID芯 片的测试方法、高速总线基础等;同时还 会有科最新产品Sapph
第四届科系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 西安  并行测试  技术研讨会  解决方案  同期  封装测试  现场  展示  混合信号  设计 
描述:第四届科系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届科系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨  西安  测试解决方案  生产测试  供应商 
描述:从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届科系列测试技术研讨年会”。[第一段]
sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
为不断降低测试成本而创新——访科公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访科公司中国区总经理陈绪先生
新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用科先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]