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利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  射频  RF  测试解决方案  Zigbee  半导体工业  WiMax  有限公司  测试选件 
描述:pphire D系列的测试能力。[第一段]
利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 模块化结构  SoC芯片  特性  无线应用  芯片尺寸  测试设备  工程验证  混合信号  复杂度 
描述:SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
利登与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 培训中心  工业大学  合作  北方  2004年6月  利登系统公司  工程  测试解决方案  半导体工业  半导体产品  SOC测试  特性分析  混合信号  供应商 
描述:2004年6月14日,美围加州MILPITAS--利登系统公司,世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
利登系统公司2004年第二季度财务报告
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:利登系统公司2004年第二季度财务报告
在MediaTek推动下多台利登Sapphire NP系
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: MediaTek公司  Sapphire  NP系统  测试系统  测试容量  DVD市场 
描述:在MediaTek推动下多台利登Sapphire NP系
Ikanos选择利登的Octet测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  Ikanos通讯公司  Octet测试系统  数字信号处理 
描述:Ikanos选择利登的Octet测试系统
全新的利登:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的利登:提供先进技术降低测试成本
利登任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 董事会  主席  House  行业  英特尔公司  有限公司  经理 
描述:利登系统有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为利登董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
DMEA购买利登IMS Vanguard测试系统
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: DMEA工程实验室  IMS  Vanguard测试系统  利登公司  微处理器 
描述:DMEA购买利登IMS Vanguard测试系统