检索结果相关分组
利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:王明伟  来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 新潮流  测试系统  低成本  半导体工业  生产商  解决方案  经济化  产品测试  技术发展  测试设备 
描述:利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体  汽车工业  综合测试系统  气动踏板  开发应用  AMIS  安全气囊  并行测试  ASIC  精度测试 
描述:利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
利登(Credence)公司混合信号测试系统
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 混合信号测试  测试系统  电子器件  测试设备  提高成品率  器件测试  电子芯片  测试成本  集成电路  测试要求 
描述:利登(Credence)公司混合信号测试系统
ATE巨头利登掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  利登公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
利登系统(上海)有限公司正式成立
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:利登系统(上海)有限公司正式成立
利登系统公司(Credence System)将并购恩普
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:利登系统公司(Credence System)将并购恩普
新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  掩模  测试解决方案  系统定位  集成电路  量产时间  物理分析  供应商  问题  产品 
描述:正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  设计纠错  验证  Verity系统  芯片 
描述:利登推出完整的设计纠错和验证解决方案