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测试
器件
图象质量
科利登公司
systems公司
SoC器件
多媒体
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Raytheon公司
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器件测试
Sapphire
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根据【检索词:Sapphire测试系统】搜索到相关结果
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条
科利登
系统
荣获《
测试
与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
系统
有限公司
测试
解决方案
测量
系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商——科利登
系统
有限公司日前宣布其S apphire D-10
系统
荣获
服务
测试
领域 满足客户需求:访科利登
系统
公司首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
系统
公司
首席执行官
服务
测试
客户需求
测试
解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科利登公司
工业设计
描述:
科利登
系统
公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
教育应是社会本位、知识本位、人本位的和谐
作者:
王占宝
来源:
上海教育
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
传统教育
知识本位
人本位
基本规律
实践教育
研究教育
和谐
社会本位
系统
走向
描述:
实践教育、研究教育、评价教育应该遵循教育的基本规律,继承优良的传统,把握教育的科学走向,根据教育的具体环境,回到教育的原点,回到教育的
系统
中来。
科利登在
2006
年度SEMICON China展会上展出S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科利登
系统
有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科利登
系统
有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了
2006
年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
microtec购买多台科利登
Sapphire
D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试
实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科利登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台
Sapphire
^TM WD-10
测试
系统
。该
测试
实验室将使用这些业界领先的
测试
系统
来
测试
多媒体音/视频数字
市场运行应是国民体质
测试
的方向
作者:
陈凌
年份:
2006
文献类型 :
会议论文
描述:
为“公共服务事业”,充分说明中国政府“以人为本”的
科利登获“最佳
测试
奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科利登
系统
有限公司的Sapphire D-10
系统
荣获
2006
年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“最佳
测试
奖”奖项。 据了解,Sapphire
科利登新品提供先进的射频
测试
能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
能力
射频
Zigbee
科利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试
平台
无线电话
描述:
科利登公司近日宣布:在其新的
Sapphire
D-40
测试
平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在
测试
无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科利登推出具有6.4G bps
测试
能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试
能力
自动测试设备
科利登
系统
公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该
系统
测试
和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
ATE巨头科利登掀起
测试
行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
ATE
行业
科利登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
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