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测试
器件
图象质量
科利登公司
systems公司
SoC器件
多媒体
半导体材料
Raytheon公司
Octet系统
器件测试
Sapphire
半导体工业
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存储器件
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团队
Octet测试系统
Vanguard测试系统
图形调试
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根据【检索词:Sapphire测试系统】搜索到相关结果
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条
科利登的QBIX选件为
Sapphire
测试
平台提供先进的模
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
测试
能力
科利登
系统
公司
模拟
测试
应用
数字电视
模数转换
音
视频
XDSL
描述:
科利登
系统
公司日前宣布:在
Sapphire
平台上采用四通道宽带集成收发选件(QBIX)能完成种类丰富的多种芯片的
测试
应用。这些
测试
包含数字电视,音/视频数模/模数转换,XDSL,中频,移动基带
科利登
测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科利登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试
平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科利登
系统
公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了
Sapphire
测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键
测试
平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Atmel利用科利登的ASL3000RF^TM无线
测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试
系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线
测试
描述:
科利登
系统
有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF
系统
作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用科利登无线
测试
系统
实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
测试
解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF
系统
作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线
测试
系统
实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
ASL3000
测试
效率
WLAN
测试
解决方案
无线器件
测试
成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约
测试
成本的解决方案。
科利登推出注重芯片成本的高量产
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登公司
芯片
成本控制
封装
测试
系统
D—10
系统
图形调试
描述:
科利登推出注重芯片成本的高量产
测试
系统
测试
与测量
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试仪
科利登公司
采样示波器
测量
数据采集设备
PXI模块
HSDPA
自动测试
自动控制
描述:
科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2.0高速数据采集设备;[第一段]
科利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科利登
系统
公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科利登
系统
公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳
测试
与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此
系统
能够鉴别出通常被
测试
失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登:成就
测试
帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科利登:成就
测试
帝国
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