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首页>根据【检索词:Pericom针对PCI Express推出系列解决方案/】搜索到相关结果15条

科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV: 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试平台测试能力射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司测试选件; 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]

科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片特性无线应用芯片尺寸测试设备工程验证混合信号复杂度; 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]

“世界艾滋病日”系列宣传活动在昆启动: 作者：吕辉李辉 来源：云南日报 年份：2006 文献类型：报纸; 描述：“世界艾滋病日”系列宣传活动在昆启动

第四届科利登系列技术研讨年会在西安成功举办: 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 技术研讨西安测试解决方案 生产测试供应商; 描述：从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation）日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列测试技术研讨年会”。[第一段]

第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 技术研讨会西安中国年会 IC测试 RFID芯片; 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]

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