检索结果相关分组
- 用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 器件测试 并行测试 特性分析 测试系统 专用芯片 高密度 测试能力 移动电话 高集成 数字仪器
- 描述：IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
- 科利登新品提供先进的射频测试能力
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试能力 射频 Zigbee 科利登公司 WiMax 测试选件 网络分析 测试平台 无线电话
- 描述：科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力
- Atmel购买科利登的系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 购买 Atmel公司 测试解决方案 科罗拉多州 有限公司 RF系统 射频芯片 无线器件 开发团队 分支机构 开发时间 ASL 灵活度
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布，Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此，Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件