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首页>根据【检索词:IC测试】搜索到相关结果86条

IC China2005科利登公司展品介绍: 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司展品介绍 IC Kalos; 描述：Sapphire D-10；Kalos；Falcon。[第一段]

科利登与北方工大合作成立IC工程培训中心: 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 培训中心工程合作北方科利登系统公司 IC 半导体产品 SoC测试工业大学特性分析; 描述：科利登系统公司日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心，为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析，然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]

首航应是厂方测试: 作者：暂无 来源：长江日报 年份：2014 文献类型：报纸; 描述：首航应是厂方测试

新闻总汇--测试与测量: 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： LabVIEW工具包 NI公司非挥发性存储器器件软件驱动程序光纤通道控制器芯片科利登系统有限公司; 描述：新闻总汇--测试与测量

科利登跻身ATE塔尖行列: 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 半导体行业科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场; 描述：科利登跻身ATE塔尖行列

王安石巧对主考官: 作者：杨晓苍 来源：小学生之友 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 王安石临川少年江西测试州府唐宋八大家听后宝塔文学家; 描述：王安石巧对主考官

科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 集成电路掩模量产时间诊断系统测试调试方法降低产品加工成本遗漏; 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器: 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 购买产品线汽车工业合作伙伴制造商系统公司器件 TM 测试; 描述：到30

科利登：立志成为全球最大的ATE公司: 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 半导体产业测试集成电路设计中国市场设备公司中国公司记者发展全球上海; 描述：China 2004期间,记者访问了科利登中国公司总经理Steve Chen和科利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。

测试重点我国航母出海应是厂方测试: 作者：暂无 来源：三秦都市报 年份：2014 文献类型：报纸; 描述：测试重点我国航母出海应是厂方测试

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