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创建业界领导者——利登投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——利登投资人更新
汤显祖佚文《候掌刘公启》考略
作者:徐国华  来源:东华理工学院学报(社会科学版) 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 汤显祖  尺牍  四六 
描述:康熙甲子刻本《听嘤堂仕林启隽》中收有汤显祖作的《候掌刘公启》一文,经寻绎辨析确定为新发现的汤氏佚文。该尺牍的发现,有助于我们全面考察汤显祖四六尺牍的艺术特征,对于深入了解汤氏的生平经历、交游活动
新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence利登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:乔治  来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体公司  成本效益  Credence  小型化  集成化 
描述:作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  集成电路  测试技术  系统级芯片  嵌入式温度稳定技术  Personal  Kalos  2  ASL  3000RF 
描述:利登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。利登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  软件设计  长工作距离  新型集成电路  失效模式  切换系统  竞争优势  制造工艺 
描述:探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
利登系统(上海)有限公司正式成立
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:利登系统(上海)有限公司正式成立
利登系统公司(Credence System)将并购恩普
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:利登系统公司(Credence System)将并购恩普
新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  掩模  测试解决方案  系统定位  集成电路  量产时间  物理分析  供应商  问题  产品 
描述:正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。