检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(226)
报纸
(69)
图书
(11)
会议论文
(1)
学位论文
(1)
按栏目分组
历史名人
(273)
地方文献
(24)
宗教集要
(6)
地方风物
(3)
红色文化
(2)
按年份分组
2014
(23)
2012
(19)
2009
(7)
2007
(12)
2006
(35)
2003
(21)
1990
(10)
1989
(4)
1983
(3)
1931
(1)
按来源分组
成交出版社有限公司
(8)
其它
(5)
人民日报
(4)
中华活页文选(初三版)
(1)
东北文化
(1)
山东画报出版社
(1)
杭州大学学报(哲学社会科学版)
(1)
档案与建设
(1)
招商周刊
(1)
中國文哲研究集刊
(1)
相关搜索词
三家詩
商人
司马光
广韵
孙奎府
中学生
故宫博物院
王安石
大学图书馆
国家图书馆
地域学术
养生观
广府文化
金山
诗集
春秋左传
境界
云海
云遮
动宾关系
女子
教师
吴侬
名片
吴伯宗状元府
回风
半导体生产
中国上海国际艺术节
天竺
首页
>
根据【检索词:馮登府】搜索到相关结果
35
条
QuickLogic选用科利
登
Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科利
登
系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
microtec购买多台科利
登
Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
购买
渗透力
测试实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科利
登
系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字
低成本和高性能促成DEI购买科利
登
的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科利
登
系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL测试系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科利
登
新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
科利
登
新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
科利
登
任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科利
登
系统有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为科利
登
董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
科利
登
SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利
登
(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届科利
登
年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利
登
系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利
登
系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
科利
登
的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利
登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科利
登
公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
首页
上一页
1
2
3
4
下一页
尾页