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合同纠纷
半导体工业
分析能力
多金属矿石
天井钻机
半导体市场
公司
半导体生产
分层充填采矿法
发展
器件
科利登公司
地下矿山
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品位
Raytheon公司
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根据【检索词:香港登利登公司等申请承认和执行香港特别行政区高等法院原讼法】搜索到相关结果
63
条
Atmel购买科
利
登
的系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
Atmel
公司
测试解决方案
科罗拉多州
有限公司
RF系统
射频芯片
无线器件
开发团队
分支机构
开发时间
ASL
灵活度
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布,Atmel
公司
购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
科
利
登
任命Dave House为董事会新执行主席
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2005
文献类型 :
报纸
描述:
[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──科
利
登
系统有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为科
利
登
董事 会
Zetex半导体购买多台科
利
登
ASL3000系统
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
半导体
购买
科
利
登
系统
公司
混合信号
测试成本
器件
拟和
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
科
利
登
测试系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司
13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Zetex半导体选择科
利
登
的ASL3000测试其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利
登
系统
公司
类型
测试解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试成本
分立器件
产品市场
测试方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
科
利
登
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利
登
系统
公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利
登
系统
公司
近日宣布:根据VLSI
公司
2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备
公司
中排名第四。[第一段]
科
利
登
与北方工大合作成立IC工程培训中心
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工程
合作
北方
科
利
登
系统
公司
IC
半导体产品
SoC测试
工业大学
特性分析
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
Sapphire D-10来自科
利
登
的测试经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自科
利
登
的测试经济化革新
科
利
登
与蔚华科技合并台湾业务
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利
登
系统
公司
业务
股份有限公司
测试解决方案
半导体行业
技术整合
测试设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
务,从而进一步致力于对科
利
登在台湾地区的用户的支持。
科
利
登
引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品测试
技术发展
测试设备
描述:
科
利
登
引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
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