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新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  掩模  测试解决方案  系统定位  集成电路  量产时间  物理分析  供应商  问题  产品 
描述:正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  步进扫描  图像叠加  掩模  系统定位  集成电路  量产时间  问题  产品  加工成本 
描述:效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
系统把握“五四之子”的思想建构——《殷海光集》导言
作者:张建军  来源:社会科学论坛(学术评论卷) 年份:2008 文献类型 :期刊文章 关键词: 殷海光  中国逻辑史  导言  五四  系统  逻辑学  周礼全  陆学 
描述:一1994年2月,时任中国逻辑学会会长的周礼全主编的《逻辑学百科辞典》出版,人们在该书"中国逻辑史"分部"人物"篇末尾,看到了"殷海光"这个当时在中国大陆学界还非常陌生的名字。辞条释文如下:
科利登推出新型测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 推出  Kalos  集成电路测试系统  Personal  科利登系统公司  非挥发性存储器  测试能力  存储器件  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
Credence Systems推出新的桌面测试系统
作者:暂无 来源:电子测试 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  桌面测试系统  PersonalKalos2  非易失性存储器 
描述:Credence Systems推出新的桌面测试系统
ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子器件
作者:暂无 来源:电子资讯时报 年份:2007 文献类型 :报纸
描述:【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感,并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前,德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用科利登FAL- CON GLX系统,以达成具高可扩展性、 成本优势
科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  科利登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登:增强型SZ Falcon测试系统
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 增强型  串行总线  数字信号处理  任意波形发生器  数据传输  模拟波形  混合信号  测试程序开发  测试要求  测试系统 
描述:科利登:增强型SZ Falcon测试系统
科利登测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  科利登系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]