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Sapphire
加工成本
测试
器件
器件测试
Raytheon公司
Octet系统
Personal
图象质量
供应商
图像叠加
周礼全
存储器件
PersonalKalos2
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条
新型科利登GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试
解决方案
系统
定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统
定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
系统
把握“五四之子”的思想建构——《殷海光集》导言
作者:
张建军
来源:
社会科学论坛(学术评论卷)
年份:
2008
文献类型 :
期刊文章
关键词:
殷海光
中国逻辑史
导言
五四
系统
逻辑学
周礼全
陆学
描述:
一1994年2月,时任中国逻辑学会会长的周礼全主编的《逻辑学百科辞典》出版,人们在该书"中国逻辑史"分部"人物"篇末尾,看到了"殷海光"这个当时在中国大陆学界还非常陌生的名字。辞条释文如下:
科利登推出新型
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路
测试
系统
Personal
科利登
系统
公司
非挥发性存储器
测试
能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用
测试
系统
Kalos 2和工程
测试
系统
Personal Kalos 2完全兼容。
Credence Systems推出新的桌面
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
系统
公司
桌面
测试
系统
PersonalKalos2
非易失性存储器
描述:
Credence Systems推出新的桌面
测试
系统
ELMOS选择科利登FALCON
系统
测试
汽车电子器件
作者:
暂无
来源:
电子资讯时报
年份:
2007
文献类型 :
报纸
描述:
【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感,并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前,德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用科利登FAL- CON GLX
系统
,以达成具高可扩展性、 成本优势
科利登的Sapphire S
测试
系统
被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登:增强型SZ Falcon
测试
系统
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
增强型
串行总线
数字信号处理
任意波形发生器
数据传输
模拟波形
混合信号
测试
程序开发
测试
要求
测试
系统
描述:
科利登:增强型SZ Falcon
测试
系统
科利登
测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科利登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试
平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科利登
系统
公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire
测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键
测试
平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
科利登Sapphire S
测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
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