检索结果相关分组
- 建设彰显临川文化特征的生态城市
- 作者：黄初晨 来源：抚州日报 年份：2006 文献类型 ：报纸 关键词： 文化生态 临川文化 关键词 生态城市 党代会报告 生态园林城市 彰显 文化特征 社会经济发展 个性城市
- 描述：市第二次党代会报告提出要进一步加大对外开放力度，加快赶超发展步伐，确保完成或超额完成“十一五”经济社会发展目标，为把抚州建设成为现代工业新城和文化生态名城而不懈努力。１１月２９日，就报告中的关键词“文化生态名城”，市第二次党代会代表、市建设局局长张信昌谈了自己的看法。$$张信昌认为，建设文化生态名城
- 赣中存在中元古代变质基底的岩石地球化学证据及其地质意义
- 作者：章邦桐 胡恭任 来源：高校地质学报 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 赣中变质岩带 乐安相山 斜长角闪岩 中元古代 浙西陈蔡群
- 描述：认赣中变质岩带原岩属中元古代地层.采用微量元素地球化学比值模糊聚类分析方法对浙西陈蔡群、震旦系及赣中变质岩和震旦系地层进行对比,结合斜长角闪岩Pb-Nd同位素地球化学特征研究,确认赣中变质岩系与陈蔡
- 相山矿田居隆庵铀矿床成矿物理化学条件分析
- 作者：吴柏林 周鲁民 来源：西北大学学报(自然科学版) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 相山矿田 相山矿田 成矿物理化学条件 成矿物理化学条件 成矿热液 成矿热液 包裹体 包裹体 同位素 同位素
- 描述：热液物理化学性质为弱酸、弱还原性的中低温热液,成岩成矿物质既来源于深部(上地幔),又有浅部物质的混合。
- 云南省六苴砂岩铜矿白垩纪沉积环境与地球化学特征分析
- 作者：甘凤伟 年份：2006 文献类型 ：学位论文 关键词： 砂岩铜矿 沉积相 地球化学相 物源区 马头山组
- 描述：分为强氧化相、弱氧化相、氧化—还原过渡相、弱还原相和强还原相。 3.通过分析大姚铜矿含矿层位碎屑岩的常、微量元素地球化学特征研究,提出楚雄中生代沉积盆地的物源区为被动大陆边缘与活动大陆边缘。
- 相山、下庄铀矿田稀土元素特征对比
- 作者：张国玉 王正其 梁良 来源：矿物岩石 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 稀土元素 稀土元素 铀矿田 铀矿田 相山 相山 下庄 下庄
- 描述：损REE尤其是LREE,具有比围岩更强烈的负铕异常.认为两矿田的围岩都是由沉积岩为源岩的地壳物质部分熔融形成的,ΣCO2是两个铀矿田的主要矿化剂,也是铀和REE运移的主要载体,造成两矿石REE特征
- 汾河二库张性裂面特征及其工程影响
- 作者：李国珍 来源：中国水利学会岩土力学专业委员会 年份：2006 文献类型 ：会议论文 关键词： 垂向卸荷 垂向卸荷 张性破裂 张性破裂 工程影响 工程影响
- 描述：底部岩体应力集中所形成的特殊构造。张性破裂面的存在造成岩体结构松弛．强度降低．渗透性增强．对工程造成不利影响。
- 淮北相山三种群落中优势树种次生木质部的解剖学特征
- 作者：史刚荣 刘蕾 来源：云南植物研究 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 剥蚀残丘 剥蚀残丘 优势树种 优势树种 次生木质部 次生木质部 解剖学特征 解剖学特征 表型可塑性 表型可塑性
- 描述：牡荆扁担木酸枣小叶鼠李柘树,植物水分输导的有效性和安全性与其在相山的自然分布相一致。作为广布优势树种,牡荆、酸枣和扁担木的次生木质部在导管分子长度、单孔率、导管频率、相对输导率、脆性指数、多列射线高度、多列射线宽度和单列射线高度等性状上均表现出一定的可塑性。与混交林和人工侧柏林相比,灌丛中植物导管分子短,单孔率低,导管频率大,射线低,相对输导率大,脆性指数小,更倾向于旱生特点。逐步多重回归分析表明,随着郁闭度的增加,导管分子长度和单孔率增加。随着风速的增加,导管频率增加。随着土壤含水量的增加,多列射线变宽。
- 中国新疆罗布泊盐湖断裂构造特征、形成机制及成钾意义
- 作者：刘成林 王弭力 焦鹏程 李树德 陈永志 来源：地质学报 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 罗布泊盐湖 断裂构造特征 罗布泊凹陷 中国新疆 形成机制 凹地 张性断裂 富钾卤水 塔里木盆地东部 罗北
- 描述：中国新疆罗布泊盐湖断裂构造特征、形成机制及成钾意义
- 香港科技园运用科利登的工具完善其诊断和特征分析能力
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 特征分析 科技园 分析能力 诊断 香港 Systems 工具 有限公司 CMOS 工程验证
- 描述：科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation,纳斯达克代码：CMOS）宣布：香港科技园（HKSTP）在其已有的一系列科利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
- 香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：个完整的失效分析实验室，从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷，帮助客户缩短产品上市时间，降低生产成本。[第一段]