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首页>根据【检索词:设计产品】搜索到相关结果14条

新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 系统定位成品率失效分析激光扫描显微镜软件设计长工作距离新型集成电路切换系统调试方法工艺性能; 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率

科利登提供从设计到生产全套的测试解决方案: 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司集成电路测试技术系统级芯片嵌入式温度稳定技术 Personal Kalos 2 ASL 3000RF; 描述：。科利登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科利登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案

科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题: 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 系统定位成品率失效分析软件设计长工作距离新型集成电路失效模式切换系统竞争优势制造工艺; 描述：探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope

新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型：期刊文章; 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率

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