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首页>根据【检索词:设计专业】搜索到相关结果15条

科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题: 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 系统定位成品率失效分析软件设计长工作距离新型集成电路失效模式切换系统竞争优势制造工艺; 描述：探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope

新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型：期刊文章; 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率

新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 成品率掩模测试解决方案系统定位集成电路量产时间物理分析供应商问题产品; 描述：正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题: 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 成品率步进扫描图像叠加掩模系统定位集成电路量产时间问题产品加工成本; 描述：效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。

自动化系列权威教材世纪献礼--访《全国高等学校自动化专业系: 作者：宋慧欣 来源：自动化博览 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 教材体系结构教材质量教材编写自动化《全国高等学校自动化专业系列教材》高校; 描述：校自动化专业系列教材》的

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