检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(421)
报纸
(273)
会议论文
(6)
学位论文
(2)
图书
(2)
按栏目分组
历史名人
(623)
地方文献
(52)
红色文化
(10)
地方风物
(7)
非遗保护
(6)
宗教集要
(5)
才乡教育
(1)
按年份分组
2014
(100)
2013
(23)
2010
(60)
2007
(30)
2005
(49)
2004
(50)
2002
(6)
1987
(7)
1985
(4)
1961
(1)
按来源分组
半导体技术
(16)
商丘日报
(16)
电子设计应用
(2)
国外金属矿采矿
(2)
古籍整理研究学刊
(2)
环湖晨刊
(1)
九江日报
(1)
抚州师专学报
(1)
世界电子元器件
(1)
黔西南日报
(1)
相关搜索词
孔子
可测性设计
地下矿
礼
图形调试
多功能
四大家
古记
《怀葛堂集》
王安石
中国革命史
中国古代
女性
思无邪
代表作
国防部长
土匪
电子工程师
图书馆
中国传统戏曲
唐明皇
天乐
古诗
《假期里修炼》
大自然
古典诗词
司马光
乡土气息
太医院
首页
>
根据【检索词:葛利高里】搜索到相关结果
50
条
科
利
登宣布收购NPTest的最终协议
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
NPTest公司
非DRAM半导体测试领域
企业重组
描述:
科
利
登宣布收购NPTest的最终协议
科
利
登:立志成为全球最大的ATE公司
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体产业
测试
集成电路设计
中国市场
设备公司
中国公司
记者
发展
全球
上海
描述:
China
2004
期间,记者访问了科
利
登中国公司总经理Steve Chen和科
利
登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
科
利
登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
PCI
SIG
HyperTransport组织
系统级芯片
描述:
科
利
登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
科
利
登(Cre dence):访科
利
登系统(上海)有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON中国
2004
展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
IC测试供应巨头科
利
登落户申城
作者:
李冰心
来源:
上海经济报
年份:
2004
文献类型 :
报纸
描述:
全球自动测试仪器(ATE)制造业领 军企业科
利
登(Credence)公司昨日正式 宣布在沪成立分公司。科
利
登总部位 于美国加州,从1978年成立至今,公司 已发展成为分支机构点遍布15个国家 的跨国
创建业界领导者——科
利
登投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——科
利
登投资人更新
新型科
利
登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型科
利
登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence科
利
登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
科
利
登提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统公司
集成电路
测试技术
系统级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。科
利
登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科
利
登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
科
利
登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科
利
登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
首页
上一页
1
2
3
4
5
下一页
尾页