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强强联手 蓄势冲击——访科
利
登系统公司全球总裁兼首席执行
作者:
邬小梅
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统公司
人物访谈
电子行业
半导体市场
测试设备
描述:
dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。
第四届科
利
登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届科
利
登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
科
利
登新聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
力量
专家
测试解决方案
半导体工业
首席执行官
全球范围
市场
供应商
描述:
现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展科
利
登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
科
利
登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
MSVanguard系列
半导体行业
生产测试
逻辑集成电路
描述:
科
利
登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
第四届科
利
登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨会
西安
中国
年会
IC测试
RFID芯片
描述:
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自科
利
登的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的科
利
登最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
科
利
登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
VLSI公司
用户满意度
自动测试设备
描述:
科
利
登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
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