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根据【检索词:科尼起重机设备】搜索到相关结果
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条
科
利登新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科
利登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试
设备
科
利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试
设备
,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试
设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
ATE巨头
科
利登掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——
科
利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
QuickLogic选用
科
利登Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利登系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
microtec购买多台
科
利登Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
购买
渗透力
测试实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字
低成本和高性能促成DEI购买
科
利登的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科
利登系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL测试系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科
利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
科
利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试
设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试
设备
的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度
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