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矽格定购了多台
科
利登Sapphire测试系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
测试与封装外包市场的增长。
科
利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
设计纠错
验证
Verity系统
描述:
科
利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
科
利登系统公司荣获英特尔的优秀质量供应商奖
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
供应商
质量
混合信号测试
英特尔公司
3月15日
美国加州
测试系统
数字和
服务
产品
市场
描述:
其他25家公司已于3月15日在加州Burlingame举行的颁奖会上接受这一荣誉。
整合优势资源 突破技术创新——访
科
利登系统公司总裁兼首席
作者:
陆彦
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
David
首席执行官
技术创新
优势资源
总裁
整合
测试解决方案
测试成本
描述:
并了台湾的业务,这一系列的重大决策,已经及将会给
科
利登带来怎样的发展呢?我们就此采访了
科
利登系统公司的总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff。
放眼亚太 倾情中国——访
科
利登系统公司中国区总经理陈绪先生
作者:
黄刚
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
中国
科
利登系统公司
陈绪
人物采访
半导体产业
市场
测试服务供应商
描述:
,今年的情况又怎么呢?本刊记者专访了国际著名测试厂商credence(
科
利登)中国区总经理陈绪先生。
日月光定购多台
科
利登的SoC测试系统Octet
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
SoC测试
半导体测试
生产测试
器件
光测
系统性能
测试能力
纳斯达克
股票
量产
描述:
统性能和测试能力,可以满足下一代器件技术,对测试系统测试容量和范围的要求。
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台
科
利登Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用
科
利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
科
利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试
设备
。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试
设备
,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
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