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第四届
科
利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届
科
利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
科
利登新聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
力量
专家
测试解决方案
半导体工业
首席执行官
全球范围
市场
供应商
描述:
现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展
科
利登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
科
利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
MSVanguard系列
半导体行业
生产测试
逻辑集成电路
描述:
科
利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
科
利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试系统
IC
成本
科
利登系统公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,
科
利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
第四届
科
利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨会
西安
中国
年会
IC测试
RFID芯片
描述:
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自
科
利登的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的
科
利登最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
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