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相关搜索词
测试
器件测试
器件
半导体工业
半导体生产
半导体材料
科利登公司
失效分析
Raytheon公司
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根据【检索词:科利登系统公司(Credence System)将并购恩普】搜索到相关结果
18
条
microtec购买多台
科
利
登
Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试
系统
。该测试实验室将使用这些业界领先的测试
系统
来测试多媒体音/视频数字
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低测试成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
测试成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低测试成本
科
利
登在VLSI关于测试与材料加工设备
公司
的用户满意度调查
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
VLSI
公司
用户满意度
自动测试设备
描述:
科
利
登在VLSI关于测试与材料加工设备
公司
的用户满意度调查
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨会
西安
中国
年会
IC测试
RFID芯片
描述:
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自
科
利
登
的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的
科
利
登
最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
Credence
参展2003 SEMICON
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
混合信号
闪存
无线通信
测试方案
ASL
3000RFTM
系统
Quartet
One
系统
TestDeveloper
ASL
1000
Personal
Kalos
描述:
Credence
参展2003 SEMICON
科
利
登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试
系统
IC
成本
科
利
登
系统
公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,
科
利
登
系统
公司
在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10
系统
Credence
和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统
公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
描述:
段]
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