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首页>根据【检索词:科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程】搜索到相关结果17条

强强联手蓄势冲击——访科利登系统公司全球总裁兼首席执行: 作者：邬小梅 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司人物访谈电子行业半导体市场测试设备; 描述：dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。

第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 西安并行测试技术研讨会解决方案同期封装测试现场展示混合信号设计; 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安

科利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司 MSVanguard系列半导体行业生产测试逻辑集成电路; 描述：科利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费

第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 技术研讨会西安中国年会 IC测试 RFID芯片; 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]

良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统: 作者：邬小梅卢玥光 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 美国科利登系统公司陈绪人物采访集成电路产业战略部署; 描述：良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统

科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本科利登系统公司芯片市场需求多功能; 描述：为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统

科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司 VLSI公司用户满意度自动测试设备; 描述：科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查

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