检索结果相关分组
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]
- 科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 中国市场 测试成本 量产时间 解决方案 ASL 3000RF
- 描述：科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- 科利登公司简介 科利登 系统公司
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 公司简介 自动测试设备 美国加利福尼亚州 ISO9001认证 检测技术 测试设施 注册商标 测试验证 半导体生产 测试成本
- 描述：科利登公司简介 科利登 系统公司
- 科利登新聘资深专家加强公司领导团队力量
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 力量 专家 测试解决方案 半导体工业 首席执行官 全球范围 市场 供应商
- 描述：现场运营和市场团队，集中于逐渐扩展科利登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
- 科利登获“最佳测试奖”
- 作者：暂无 来源：上海商报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述： 本报讯 近日，来自美国加州苗必达市的消息称：科利登系统有限公司的Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０系统荣获２００６年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解，Ｓａｐｐｈｉｒｅ
- 科利登:成就测试帝国
- 作者：安勇龙 来源：电子经理世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登:成就测试帝国
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- 科利登跻身ATE塔尖行列
- 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体行业 科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场
- 描述：科利登跻身ATE塔尖行列