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相关搜索词
测试
图象质量
器件
科利登公司
systems公司
Sun公司
Raytheon公司
Sapphire
SoC器件
Octet系统
多媒体
存储器件
SoC芯片
半导体工业
存储器
多功能
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根据【检索词:科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统】搜索到相关结果
664
条
矽格定购了多台
科
利
登
Sapphire
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
测试
与封装外包市场的增长。
Ikanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数宇信号处理
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
宽带数字信号处理器
测试
Octet
系统
Ikanos公司
描述:
Ikanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数宇信号处理
科
利
登
sapphire
D-10
测试
系统
销往欧洲领先的
测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
实验室
测试
系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科
利
登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10
测试
系统
。该
测试
实验室将使用这些先进的
测试
系统
来
测试
多媒体音,视频数字和混合
科
利
登
推出新型
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路
测试
系统
Personal
科
利
登
系统
公司
非挥发性存储器
测试
能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用
测试
系统
Kalos 2和工程
测试
系统
Personal Kalos 2完全兼容。
DA
测试
公司应用
科
利
登
Quartet One来提高
测试
能力
作者:
暂无
来源:
无线电工程
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
DA
测试
公司
QuartetOne
SoC芯片
测试
能力
描述:
DA
测试
公司应用
科
利
登
Quartet One来提高
测试
能力
科
利
登
引领
测试
经济化新潮流——
Sapphire
D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试
系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品
测试
技术发展
测试
设备
描述:
科
利
登
引领
测试
经济化新潮流——
Sapphire
D-10亮
Silicon Image购买了
科
利
登
Sapphire
测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试
系统
消费类
购买
科
利
登
系统
公司
gigabit
一代
测试
解决方案
半导体工业
测试
平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
科
利
登
推出
Sapphire
—D10
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
科
利
登
系统
公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科
利
登
系统
公司(Credence)日前宣布,推出
Sapphire
系列的新成员Sapphire-D10。该
系统
是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装
测试
解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
科
利
登
新推出的
Sapphire
D-40
测试
平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
测试
能力
射频
RF
测试
解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的
测试
能力
。[第一段]
科
利
登
新品提供先进的射频
测试
能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试
平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司近日宣布:在其新的
Sapphire
D-40
测试
平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在
测试
无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的
能力
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