检索结果相关分组
- 荣辱兹事大矣
- 作者：忻文 来源：文史天地 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 《盐铁论》 中华民族 荣辱观 羞耻心 思想家 文学家 政治家 王安石
- 描述：;每一个“耻”都关系到社会的安定和个人的命运。“八荣八耻”不仅体现了中华民族的传统美德,也体现了社会主义的时代精神;不仅体现了社会主义...
- 社会阅历应是教师资格的一个重要指标
- 作者：梁莹香 周进东 来源：科技信息(学术版) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 教师 资格证 阅历 学历
- 描述：本文根据教学的经验和需求,提出了一个观点：社会阅历应是教师资格的一个重要指标。并从教育的性质决定教师需要具备社会阅历、阅历比学历重要、凡大师必有丰富的阅历,三个方面论证了自己的观点。
- 科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
- QuickLogic选用科利登Sapphire D-10系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 Logic公司 Quick 有限公司 工程验证 FPGA 低功耗 产品
- 描述：科利登系统（Credence）有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统，并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]
- 抚州开建汤显祖大剧院
- 作者：暂无 来源：信息日报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述： 本报抚州讯记者周文平报道：10日，随着总投资1.6亿元左右的抚州市临川文化园项目规划、设计方案的通过并挖土平地，标志着汤显祖大剧院建设项目正式启动。 据该市文化局一位负责人介绍，该园占地