检索结果相关分组
登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  VLSI公司  用户满意度  自动测试设备 
描述:登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
第四届系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 西安  并行测试  技术研讨会  解决方案  同期  封装测试  现场  展示  混合信号  设计 
描述:第四届系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
新聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 力量  专家  测试解决方案  半导体工业  首席执行官  全球范围  市场  供应商 
描述:现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
第四届系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨会  西安  中国  年会  IC测试  RFID芯片 
描述:对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试
作者:丁辉文  来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 温度稳定装置确  测试系统  热管理系统  公司  芯片级温度稳定技术  测试成本  集成电路 
描述:芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试