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相关搜索词
SoC器件
测试
图象质量
器件
半导体材料
吞吐量
半导体行业
科利登公司
systems公司
Sapphire
Raytheon公司
多媒体
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半导体工业
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根据【检索词:矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统】搜索到相关结果
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条
科
利
登在VLSI关于
测试
与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
VLSI公司
用户满意度
自动测试设备
描述:
科
利
登在VLSI关于
测试
与材料加工设备公司的用户满意度调查
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行
测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装
测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
科
利
登
新聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
力量
专家
测试
解决方案
半导体工业
首席执行官
全球范围
市场
供应商
描述:
现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展
科
利
登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
MSVanguard系列
半导体行业
生产
测试
逻辑集成电路
描述:
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨会
西安
中国
年会
IC
测试
RFID芯片
描述:
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自
科
利
登
的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的
科
利
登
最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
科
利
登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试
系统
IC
成本
科
利
登
系统
公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,
科
利
登
系统
公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出
Sapphire
家族的最新成员
Sapphire
D-10
系统
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本
测试
作者:
丁辉文
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
温度稳定装置确
测试
系统
热管理
系统
科
利
登
公司
芯片级温度稳定技术
测试
成本
集成电路
描述:
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本
测试
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