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利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
ATE巨头利登掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  利登公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
QuickLogic选用利登Sapphire D-10系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  Logic公司  Quick  有限公司  工程验证  FPGA  低功耗  产品 
描述:利登系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
microtec购买多台利登Sapphire D-10测
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  购买  渗透力  测试实验室  市场  有限公司  混合信号    视频  数字和  多媒体 
描述:利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字
低成本和高性能促成DEI购买利登的ASL平台
作者:本刊通讯员  来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  DEI  平台  购买  促成  成本  测试系统  专用集成电路  有限公司  SL系列 
描述:利登系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL测试系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  射频  RF  测试解决方案  Zigbee  半导体工业  WiMax  有限公司  测试选件 
描述:pphire D系列的测试能力。[第一段]
利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 模块化结构  SoC芯片  特性  无线应用  芯片尺寸  测试设备  工程验证  混合信号  复杂度 
描述:SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
利登任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 董事会  主席  House  行业  英特尔公司  有限公司  经理 
描述:利登系统有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为利登董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
第四届利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 西安  并行测试  技术研讨会  解决方案  同期  封装测试  现场  展示  混合信号  设计 
描述:第四届利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安