检索结果相关分组
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award（最佳测试奖）”奖项。
- 科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 测试能力 射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司 测试选件
- 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]
- 为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 总经理 测试成本 中国 创新
- 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 科利登新增端对端6．4Gbps高速芯片测试产品
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 芯片测试 高速 端对端 成本优势 测试选件 通道数量 参数分析 总线测试 IP技术
- 描述：这些选件成为6．4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
- 欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapp
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]