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条
科利登的Sapphire S
测试
系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登新品提供先进的射频
测试
能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
能力
射频
Zigbee
科利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试
平台
无线电话
描述:
科利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40
测试
平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在
测试
无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
Ikanos选择科利登的Octet
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
Ikanos通讯公司
Octet
测试
系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择科利登的Octet
测试
系统
矽格定购科利登Sapphire
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
矽格微电子公司
Sapphire
测试
系统
科利登系统有限公司
SoC器件
定购
描述:
科利登系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire
测试
系统。作为科利登近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC
测试
与封装外包市场
为不断降低
测试
成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登公司
总经理
测试
成本
中国
创新
描述:
为不断降低
测试
成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
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