检索结果相关分组
科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  科利登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  科利登公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:科利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
Ikanos选择科利登的Octet测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  Ikanos通讯公司  Octet测试系统  数字信号处理 
描述:Ikanos选择科利登的Octet测试系统
矽格定购科利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 矽格微电子公司  Sapphire测试系统  科利登系统有限公司  SoC器件  定购 
描述:科利登系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire测试系统。作为科利登近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生