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条
科利登系统荣获《
测试
与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统有限公司
测试
解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006
年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award(最佳
测试
奖)”奖项。
科利登新推出的Sapphire D-40
测试
平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
测试
能力
射频
RF
测试
解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的
测试
能力。[第一段]
麻姑山铜钼矿床西矿带-250m中段矿体提升
方案
的比较
作者:
聂世磊
来源:
有色金属(矿山部分)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
盲斜井筒延伸
盲斜井筒延伸
冒顶跨落
冒顶跨落
托梁换柱
托梁换柱
棚顶支护
棚顶支护
描述:
通过对麻姑山铜钼矿床西矿带-250m中段矿体提升
方案
的优化比较,采用盲斜井延伸提升
方案
,不仅降低了生产成本,提高了采场的出矿能力,而且创造了经济效益.
为不断降低
测试
成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登公司
总经理
测试
成本
中国
创新
描述:
为不断降低
测试
成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
科利登新增端对端6.4Gbps高速芯片
测试
产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片
测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线
测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线
测试
的低成本解决方案。[第一段]
欧洲领先的
测试
实验室Microtec购买多台科利登Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
服务
测试
领域 满足客户需求:访科利登系统公司首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
首席执行官
服务
测试
客户需求
测试
解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科利登公司
工业设计
描述:
科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
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