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首页>根据【检索词:测试应用】搜索到相关结果16条

科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test: 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司测试解决方案测量系统半导体工业美国加州供应商; 描述：2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award（最佳测试奖）”奖项。

科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV: 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试平台测试能力射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司测试选件; 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]

为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生: 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司总经理测试成本中国创新; 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生

科利登新增端对端6．4Gbps高速芯片测试产品: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 芯片测试高速端对端成本优势测试选件通道数量参数分析总线测试 IP技术; 描述：这些选件成为6．4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]

欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapp: 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型：期刊文章; 描述：频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]

服务测试领域满足客户需求：访科利登系统公司首席执行官Da: 作者：Dave Ranhoff 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司首席执行官服务测试客户需求测试解决方案全球范围技术人员设备制造商科利登公司工业设计; 描述：科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]

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