检索结果相关分组
- Credence亮相Semicon China 2003：
- 作者：周检兵 来源：集成电路应用 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Mr.LarryDibattista 半导体行业 SemiconChina2003 中国市场 测试
- 描述：供设计、测试验证和先进的光学检测方面的测试技术,使低测试成本和快速市场投放成为可能。Credence公司还可
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- 根据仪器观测和测量数据确定滑动面的形状和位置
- 作者：Г.К.给奥利也夫 许纪隆 来源：矿山测量 年份：1989 文献类型 ：期刊文章 关键词： 滑动面 工程地质条件 露天矿 滑坡过程 仪器观测 剖面线 废石堆 标石 缓斜坡 变形观测
- 描述：分析滑坡地段的测量结果,就有可能为我们提供滑坡过程的性质。有许多实践的例子所证实。沿东马里芝露天矿外部废石堆前的标石点剖面线进行了变形观测。沿沙高里芝河台阶高7～8米缓斜坡上的剖面线,从1972年6月13日到1973年2月19日对标石
- 新闻总汇--测试与测量
- 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： LabVIEW工具包 NI公司 非挥发性存储器器件 软件驱动程序 光纤通道控制器芯片 科利登系统有限公司
- 描述：新闻总汇--测试与测量
- 科利登跻身ATE塔尖行列
- 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体行业 科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场
- 描述：科利登跻身ATE塔尖行列
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。