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首页>根据【检索词:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率】搜索到相关结果12条

科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程: 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： Cadence 验证合作科利登系统公司诊断测试平台 Test 测试覆盖率测试向量; 描述：adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]

科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM: 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司中国市场测试成本量产时间解决方案 ASL 3000RF; 描述：科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM

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