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测试
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根据【检索词:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率】搜索到相关结果
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条
矽格定购
科
利
登
Sapphire测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
矽格微电子公司
Sapphire测试
系统
科
利
登
系统
有限公司
SoC器件
定购
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire测试
系统
。作为
科
利
登
近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
科
利
登
:立志成为中国ATE第一
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体工业
科
利
登
公司
中国
ATE
市场占有率
描述:
05重点展示其新推出的几款新产品。为了让读者更加了解该公司,记者特意采访了
科
利
登
公司资深副总裁、主管全球运作的BartFreedman先生,现将采访内容整理出来,以飨读者。
科
利
登
:立志成为全球最大的ATE公司
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体产业
测试
集成电路设计
中国市场
设备公司
中国公司
记者
发展
全球
上海
描述:
China 2004期间,记者访问了
科
利
登
中国公司总经理Steve Chen和
科
利
登
公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
科
利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
威盛电子将
科
利
登
(Credence)的Octet作为首选芯
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
电子
生产测试
计算机芯片
测试时间
测试
系统
可配置
芯片组
股份有限公司
系统
公司
描述:
科
利
登
系统
公司最近宣布,威盛电子股份有限公司已经将
科
利
登
公司的可配置 SOC 芯片测试
系统
用作该公司计算机芯片组的量产测试。Octect 高效的测试时间及性能以其比竞争对手更为低廉的全面测试成本
科
利
登
公司公布2003财年第一季度结果
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
第一季度
财政年度
测试方案
美元
半导体工业
销售额
供应商
净亏损
有限公司
日结束
描述:
为全球半导体工业从
设计
到生产提供测试方案的主要供应商科
利
登
公司(Nasdaq:CMOS),日前公开了于2003年1月31日结束的第一季度的财政收入情况。2003财政年度第一季度的净销售额为3,670
科
利
登
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利
登
系统
公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利
登
系统
公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
为不断降低测试成本而创新——访
科
利
登
公司中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
总经理
测试成本
中国
创新
描述:
为不断降低测试成本而创新——访
科
利
登
公司中国区总经理陈绪先生
物理
设计
纠错和验证完整解决方案 显著加快新品上市进程
作者:
丁辉文
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
物理
设计
纠错
验证
半导体制造
硅片纠错
科
利
登
公司
描述:
术的快速发展与迅速变
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