检索结果相关分组
- 科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试实验室 测试系统 欧洲 混合信号 多媒体 高电压 芯片 视频
- 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音，视频数字和混合
- 科利登具有6．4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
- 为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 总经理 测试成本 中国 创新
- 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 科利登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：在2006年度VLSI Research客户满意度调查中，科利登公司再次取得了很好的排名。科利登公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名，这也证明了科利登公司的产品、客户服务和支持的独到之处
- 科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 科利登系统有限公司 SEMICON China展会 Sapphire D 10 失效分析
- 描述：科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
- 科利登获“最佳测试奖”
- 作者：暂无 来源：上海商报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述： 本报讯 近日，来自美国加州苗必达市的消息称：科利登系统有限公司的Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０系统荣获２００６年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解，Ｓａｐｐｈｉｒｅ
- 威盛电子选用科利登解决方案
- 作者：刘林发 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司 设计公司 分析实验室 台湾地区 特征分析 Inc 生产线 购买
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc．)成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
- 第四届科利登年度技术研讨会西安召开
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试