检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(802)
报纸
(534)
会议论文
(13)
图书
(6)
学位论文
(4)
按栏目分组
历史名人
(1160)
地方文献
(127)
地方风物
(26)
红色文化
(17)
宗教集要
(13)
非遗保护
(13)
才乡教育
(2)
文化溯源
(1)
按年份分组
2014
(234)
2011
(106)
2007
(60)
2006
(66)
2005
(77)
2004
(67)
2003
(51)
2001
(19)
1987
(14)
1982
(5)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
半导体技术
(18)
中国集成电路
(18)
集成电路应用
(13)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
今日电子
(6)
电子产品世界
(6)
国外电子测量技术
(5)
核地知与行
(4)
相关搜索词
公司
半导体产业
测试
供应商
器件测试
发展
器件
半导体工业
半导体生产
市场
半导体材料
发展策略
科利登公司
失效分析
Raytheon公司
发展战略
半导体行业
何源富
多媒体
半导体市场
优势资源
全球范围
人物采访
半导体公司
可配置
合并
合作
存储器件
Sapphire
首页
>
根据【检索词:市场要闻:科利登(credence)系统公司(北京、上海)】搜索到相关结果
77
条
科
利
登
测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司
13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RF^TM无线测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试
系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线测试
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布:Atmel
公司
购买了ASL 3000RF
系统
作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用
科
利
登
无线测试
系统
实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
测试解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel
公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利
登
公司
近日宣布,Atmel
公司
选用ASL3000RF
系统
作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
矽格定购
科
利
登
Sapphire测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
矽格微电子
公司
Sapphire测试
系统
科
利
登
系统
有限公司
SoC器件
定购
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布:矽格微电子
公司
,已经购买了多台Sapphire测试
系统
。作为
科
利
登
近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包
市场
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RFTM无线测试
系统
实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
ASL3000
测试效率
WLAN
测试解决方案
无线器件
测试成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件
市场
提供了关键的节约测试成本的解决方案。
矽格定购了多台
科
利
登
Sapphire测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
测试与封装外包
市场
的增长。
京元电子购买多台
科
利
登
Sapphire
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
客户
量产
节约
有限公司
电子
吞吐量
测试成本
测试
系统
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布京元电子有限公司(KYEC)已经购买了多台Sapphire测试
系统
。京元将使用Sapphire提高其高量产测试的吞吐量,为客户节约了测试成本。
IC China2005
科
利
登
公司
展品介绍
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
展品介绍
IC
Kalos
描述:
Sapphire D-10;Kalos;Falcon。[第一段]
科
利
登
推出注重芯片成本的高量产测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
芯片
成本控制
封装测试
系统
D—10
系统
图形调试
描述:
科
利
登
推出注重芯片成本的高量产测试
系统
科
利
登
推出Kalos 2 Hex
系统
作为存储器器件灵活,完
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Kalos
测试解决方案
x
系统
推出
He
集成电路测试
系统
Personal
科
利
登
系统
公司
非挥发性存储器
存储器件
测试能力
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试
系统
Kalos 2和工程测试
系统
Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex
系统
已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试。
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
下一页
尾页