检索结果相关分组
- 科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试覆盖率 测试向量
- 描述：adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
- 科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 中国市场 测试成本 量产时间 解决方案 ASL 3000RF
- 描述：科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- Credence亮相Semicon China 2003：
- 作者：周检兵 来源：集成电路应用 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Mr.LarryDibattista 半导体行业 SemiconChina2003 中国市场 测试
- 描述：供设计、测试验证和先进的光学检测方面的测试技术,使低测试成本和快速市场投放成为可能。Credence公司还可