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条
历史上的土地制度和土地政策综合导学
作者:
张文芝
来源:
中学历史教学研究
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
土地政策
土地制度
封建土地所有制
土地国有制
导学
历史
春秋战国时期
封建社会
王安石变法
奴隶社会
描述:
种土地占有形态:封建土地国有制(如均田制、屯田制)、地主土地所有制、自耕农土地所有制。我国封建社会实行的与土地有关的赋税制度,如田租、租庸调制、两税法、一条鞭法和摊丁入亩等。我国封建社会的土地兼并及评价。
我国审计监督制度的
历史
考察
作者:
朱永恒
来源:
福建史志
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
审计监督制度
西周时期
发展经历
审计制度
《周礼》
审计职责
描述:
我国审计监督制度的产生和发展经历了漫长曲折的过程。早在西周时期就有了审计制度的雏形。据《周礼》记载,西周的审计职责,由小宰和司会分掌。小宰的下属官吏宰夫行使稽查权,“考其出人,而定刑赏”。由小宰和司会对收支报告互相进行“钩考”(即审核),并将结果递交六卿之一的冢宰,冢宰协同周王“受计”。[第一段]
科
利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──
科
利登(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届
科
利登年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届
科
利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
科
利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科
利登新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科
利登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试设备
科
利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
ATE巨头
科
利登掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——
科
利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
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