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用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 器件测试  并行测试  特性分析  测试系统  专用芯片  高密度  测试能力  移动电话  高集成  数字仪器 
描述:IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:王明伟  来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 新潮流  测试系统  低成本  半导体工业  生产商  解决方案  经济化  产品测试  技术发展  测试设备 
描述:科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
Silicon Image购买了科利登Sapphire测试
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  电子器件  测试系统  消费类  购买  科利登系统公司  gigabit  一代  测试解决方案  半导体工业  测试平台  有限公司  数据传输  供应商  存储器  代码 
描述:些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
科利登推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  科利登系统公司  微控制器  混合信号  显示驱动  e系列  多功能  消费类  封装 
描述:科利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
Atmel利用科利登的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 解决方案  测试系统  性能  射频芯片  开发团队  灵活度  科罗拉多  开发时间  分支机构  无线测试 
描述:科利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用科利登无线测试系统实现高效率
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  测试解决方案  无线器件  高效率  射频芯片  ASL3000  Atmel公司  分支机构  团队  工程开发 
描述:科利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
矽格定购科利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 矽格微电子公司  Sapphire测试系统  科利登系统有限公司  SoC器件  定购 
描述:科利登系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire测试系统。作为科利登近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  ASL3000  测试效率  WLAN  测试解决方案  无线器件  测试成本  分支机构  团队  工程开发 
描述:N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:测试与封装外包市场的增长。