检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(338)
报纸
(125)
图书
(15)
学位论文
(10)
会议论文
(7)
按栏目分组
历史名人
(468)
非遗保护
(14)
地方文献
(8)
地方风物
(2)
宗教集要
(1)
红色文化
(1)
才乡教育
(1)
按年份分组
2014
(52)
2010
(25)
2007
(17)
2006
(41)
2005
(55)
2004
(44)
2002
(8)
1997
(7)
1994
(11)
1933
(1)
按来源分组
其它
(28)
古籍整理研究学刊
(3)
抚州师专学报
(2)
福建论坛(人文社会科学版)
(1)
晋阳学刊
(1)
安顺日报
(1)
学术研究
(1)
东华理工学院学报(社会科学版)
(1)
船山学刊
(1)
新晋商
(1)
相关搜索词
孔子
山西
礼
工业经济
学者
名节
孔子义利观
司马迁
女权运动
制科
古代
中国古代
直诉制度
周公
农民
公元
土地制度
南岳大庙
自然语言逻辑
诗学价值观
十五国风
参考书
基本的
古文献
三国志
书法艺术
同义词
战国时期
周礼
首页
>
根据【检索词:利以义制】搜索到相关结果
41
条
试论王安石《诗新
义
》在《诗经》阐释史上的地位及影响
作者:
孙宝
来源:
诗经研究丛刊
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
王安石
《诗新
义
》
《诗经》阐释史
描述:
王安石新学以礼解经,切近时用,并长期作为官方学术,影响到宋室南渡之后。随着宋孝宗继位,大兴洛学,荆公新学才日渐衰微。然而,《诗新
义
》在《诗经》阐释史上的地位不容忽视。它的笺注模式既有对郑玄的扬弃吸收
科
利
登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试设备
科
利
登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利
登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
ATE巨头科
利
登掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利
登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利
登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科
利
登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
QuickLogic选用科
利
登Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利
登系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
microtec购买多台科
利
登Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
购买
渗透力
测试实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字
低成本和高性能促成DEI购买科
利
登的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科
利
登系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL测试系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科
利
登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
科
利
登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
首页
上一页
1
2
3
4
5
下一页
尾页