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登(Cre dence):访科登系统(上海)有限公司
作者:丁力  来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统有限公司  陈绪  人物访谈  发展战略  中国市场  测试设备 
描述:2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
IC测试供应巨头科登落户申城
作者:李冰心  来源:上海经济报 年份:2004 文献类型 :报纸
描述:集团。作为唯一能从设计到 造各个阶段测试难题为客户提供最佳 解决方案的ATE供应商,科登为半 导体
创建业界领导者——科登投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——科登投资人更新
新型科登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型科登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence科登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:乔治  来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体公司  成本效益  Credence  小型化  集成化 
描述:作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
登提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统公司  集成电路  测试技术  系统级芯片  嵌入式温度稳定技术  Personal  Kalos  2  ASL  3000RF 
描述:体制造厂商纷纷把集成电路作和测试中心迁往亚洲,尤其是中国。随着数字消费电子、汽车、3G通信及网络等行业的快速发展,在这里用于DVD播放器、手机元件和游戏控制台的芯片的需求量会在未来的几年内迅速增加
登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  软件设计  长工作距离  新型集成电路  失效模式  切换系统  竞争优势  制造工艺 
描述:探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
登系统(上海)有限公司正式成立
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:登系统(上海)有限公司正式成立
登系统公司(Credence System)将并购恩普
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:登系统公司(Credence System)将并购恩普
新型科登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:新型科登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率