检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(248)
报纸
(108)
会议论文
(4)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(346)
才乡教育
(5)
地方文献
(4)
地方风物
(2)
非遗保护
(2)
宗教集要
(1)
红色文化
(1)
按年份分组
2013
(10)
2011
(21)
2010
(19)
2009
(8)
2006
(37)
2004
(48)
2002
(2)
1993
(3)
1986
(4)
1978
(1)
按来源分组
贵州文史丛刊
(2)
古籍整理研究学刊
(2)
贵阳文史
(1)
福建师范大学学报(哲学社会科学版)
(1)
黄石日报
(1)
福州日报
(1)
中华文史论丛
(1)
抚州师专学报
(1)
河北师范大学学报(哲学社会科学版)
(1)
学苑出版社
(1)
相关搜索词
美刺
兴
孔子
礼
探源
王安石
周礼
历史典故
中国古代
周礼"六诗"
实践形态
利益
初中生
委员会
墨翟
王益
王安石变法
奴隶
全国重点文物保护单位
增收
协会
净收入
半导体生产
山西
现代
商纣
多金属硫化矿
反腐倡廉
声音
首页
>
根据【检索词:兴利】搜索到相关结果
48
条
科
利
登:立志成为全球最大的ATE公司
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体产业
测试
集成电路设计
中国市场
设备公司
中国公司
记者
发展
全球
上海
描述:
China
2004
期间,记者访问了科
利
登中国公司总经理Steve Chen和科
利
登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
科
利
登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
PCI
SIG
HyperTransport组织
系统级芯片
描述:
科
利
登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
科
利
登(Cre dence):访科
利
登系统(上海)有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON中国
2004
展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
大学生创业应是科技创业——南京大学党委书记洪银
兴
谈大学生创业
作者:
孙江林
来源:
学子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科技创业
高校
毕业生
洪银
兴
人物访谈
就业指导
合作精神
团队精神
描述:
12月10日晚,“全球大学生创业大赛”(The Global Student EntrepreneurAwards)在南京大学浦口校区力行馆拉开序幕。南京大学党委书记洪银
兴
教授就大学生创业发表
临川一中周保
兴
老师荣获全国写字课教学录像一等奖
作者:
林漪
来源:
江西教育
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
临川一中周保
兴
老师荣获全国写字课教学录像一等奖
创建业界领导者——科
利
登投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——科
利
登投资人更新
新型科
利
登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型科
利
登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence科
利
登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
科
利
登提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统公司
集成电路
测试技术
系统级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。科
利
登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科
利
登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
科
利
登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科
利
登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
首页
上一页
1
2
3
4
5
下一页
尾页